微区XRF500镀层测厚仪

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	微区XRF500镀层测厚仪 XRF500	性能特点：非破坏性,无须接触,准确度高,测量面积小可测量单镀层,双镀层,合金镀层,合金成份适合于任何形状复杂,精致细小和复合型样品样品沿三方向移动,激光定位精确选择测量点镀层和基底的原子序数相差大于1即可测量内置滤光片用于镀层和基底是相邻元素的情况荧光屏和打字机同时印出当前几次测的厚度值

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